María Cecilia Fuertes - Viernes 10 de noviembre 11:00 hs

Caracterización y aplicaciones de films delgados de óxidos porosos

En este seminario se presentarán las facilidades de caracterización de películas porosas disponibles en el Grupo de Nanoquímica [1] del Centro Atómico Constituyentes, y algunos dispositivos que estamos desarrollando en el grupo a partir de estos óxidos porosos.
En particular, se describirán tres técnicas: 1) la indentación instrumentada o nanoindentación, que permite estudiar las propiedades mecánicas de recubrimientos y diversos materiales [2]; 2) la reflectometría de RX, con la cual se determinan espesores de películas muy delgadas y densidades electrónicas de superficies planas [3]; y 3) la porosimetría elipsométrica, que se utiliza para evaluar las propiedades ópticas y de sorción de películas porosas [4].
Dentro de las aplicaciones que estudiamos en el grupo, se mostrará el desarrollo de sensores ópticos basados en multicapas de óxidos porosos. Las estructuras dieléctricas periódicas, o cristales fotónicos, reflejan un rango de longitudes de onda determinado por los espesores e índices de refracción de los films que forman la estructura multicapa. Si los films son porosos y accesibles, el sistema es responsivo: se modifican sus propiedades ópticas debido a la condensación de vapores dentro de los poros [5]. Se presentarán los sensores que estamos desarrollado utilizando tanto cristales fotónicos porosos como los basados en el efecto Tamm [6].

[1] www.qnano.com.ar
[2] J. Phys. Chem. C (2017) 121 (40), 22576-22586
[3] Small 5 (2009) 272-280
[4] Journal of Physical Chemistry C 112 (2008) 3157-3163
[5] Advanced Functional Materials 17 (2007) 1247-1254; J. Mater. Chem. C (2017) 5, 3445-3455
[6] ACS Photonics 1 (9) (2014) 775-780