Seminario sobre reflectometrias

Andrés Zelcer, doctor en Química e investigador a cargo del laboratorio de nanomateriales híbridos y estructurados del Centro de Investigaciones en Bionanociencias (CIBION), dictó un seminario para los integrantes de este instituto el pasado 19 de mayo. Durante su presentación, repasó algunas de las actividades que realiza junto a su grupo de trabajo.

El científico explicó que las reflectometrías de rayos X y de neutrones son técnicas no destructivas para el estudio de películas delgadas y cuyo desarrollo inicial acompañó al del proceso planar para la producción de circuitos integrados. Actualmente, resultan técnicas fundamentales para el estudio de diversos sistemas, en particular para materia blanda.

Durante el seminario, Zelcer resumió los principios subyacentes a estas técnicas y, explayándose en qué información puede obtenerse, qué tipos de muestras pueden ser medidas y mostrando algunos ejemplos de su uso. 

El investigador resumió algunas ventajas de estas técnicas. Algunas de ellas se vinculan a que se trata de métodos no destructivos, muy precisos, relativamente rápidos y que permiten medir interfaces no expuestas. Sin embargo, también existen algunas desventajas. Por ejemplo, la necesidad de utilizar equipo especializado en el caso de rayos X y de un reactor en el caso de neutrones, que no es útil para analizar muestras desconocidas, y que sólo sirve para films delgados.

Sobre el disertante

Andrés Zelcer es doctor en química e investigador adjunto del CONICET. Está a cargo del laboratorio de nanomateriales híbridos y estructurados del CIBION. Es profesor regular adjunto de la Escuela de Ciencia y Tecnología (ECyT) de la Universidad de San Martín.